标准编号：GB/T 19403.1-2003

中文名称：半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)

英文名称：Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)

发布日期：2003-11-24

实施日期：2004-08-01

代替标准：

标准类别：

采标号：IEC 60748-11-1:1992

采标名称：None

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：