标准编号：GB/T 15651.3-2003

中文名称：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

英文名称：Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

发布日期：2003-11-24

实施日期：2004-08-01

代替标准：

标准类别：

采标号：IEC 60747-5-3:1997

采标名称：None

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：