标准编号：GB/T 4937.2-2006

中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压

英文名称：Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 2: Low air pressure

发布日期：2006-08-23

实施日期：2007-02-01

代替标准：GB/T 4937-1995（部）

标准类别：

采标号：IEC 60749-2:2002

采标名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：