标准编号：GB/T 4937.1-2006

中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则

英文名称：Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General

发布日期：2006-08-23

实施日期：2007-02-01

代替标准：GB/T 4937-1995（部）

标准类别：

采标号：IEC 60749-1:2002

采标名称：None

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：