标准编号：GB/T 20724-2006

中文名称：薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

英文名称：Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

发布日期：2006-12-25

实施日期：2007-08-01

代替标准：

标准类别：

采标号：None

采标名称：None

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：