标准编号：GB/T 22572-2008

中文名称：表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法

英文名称：Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials

发布日期：2008-12-11

实施日期：2009-10-01

代替标准：

标准类别：

采标号：ISO 20341:2003

采标名称：表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：