标准编号：GB/T 23414-2009

中文名称：微束分析 扫描电子显微术 术语

英文名称：Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary

发布日期：2009-04-01

实施日期：2009-12-01

代替标准：

标准类别：

采标号：ISO 22493:2008

采标名称：微束分析 扫描电子显微术 术语

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：