标准编号：GB/T 24576-2009

中文名称：高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法

英文名称：Test method for measuring the Al fraction in AlGaAs on GaAs substrates by high resolution X-ray diffraction

发布日期：2009-10-30

实施日期：2010-06-01

代替标准：

标准类别：

采标号：SMEI M63-0306

采标名称：准则：采用高分辨率X光衍射法测量砷化镓衬底上AlGaAs中Al百分含量的测试方法

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：