标准编号：GB/T 1553-2009

中文名称：硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

英文名称：Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay

发布日期：2009-10-30

实施日期：2010-06-01

代替标准：GB/T 1553-1997

标准类别：

采标号：None

采标名称：None

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：