标准编号：GB/T 1555-2009

中文名称：半导体单晶晶向测定方法

英文名称：Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal

发布日期：2009-10-30

实施日期：2010-06-01

代替标准：GB/T 1555-1997

标准类别：

采标号：None

采标名称：None

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：