标准编号：GB/T 6624-2009

中文名称：硅抛光片表面质量目测检验方法

英文名称：Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection

发布日期：2009-10-30

实施日期：2010-06-01

代替标准：GB/T 6624-1995

标准类别：

采标号：None

采标名称：None

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：