标准编号：GB/T 25758.2-2010

中文名称：无损检测 工业X射线系统焦点特性 第2部分：针孔照相机射线照相方法

英文名称：Non-destructive testing - Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing - Part 2: Pinhole camera radiographic method

发布日期：2010-12-23

实施日期：2011-10-01

代替标准：

标准类别：

采标号：EN 12543-2:1999

采标名称：无损检测 工业X射线系统焦点特性 第2部分：针孔照相机射线照相方法

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：