标准编号：GB/T 27760-2011

中文名称：利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法

英文名称：Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps

发布日期：2011-12-30

实施日期：2012-05-01

代替标准：

标准类别：

采标号：ASTM E 2530-2006

采标名称：利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：