标准编号：GB/T 5201-2012

中文名称：带电粒子半导体探测器测量方法

英文名称：Test procedures for semiconductor charged particle detectors

发布日期：2012-06-29

实施日期：2012-11-01

代替标准：GB/T 5201-1994

标准类别：

采标号：IEC 60333:1993

采标名称：核仪器 半导体带电粒子探测器 试验程序

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：