标准编号：GB/T 4937.3-2012

中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination

发布日期：2012-11-05

实施日期：2013-02-15

代替标准：

标准类别：

采标号：IEC 60749-3:2002

采标名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：