标准编号：GB/T 4937.4-2012

中文名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

发布日期：2012-11-05

实施日期：2013-02-15

代替标准：

标准类别：

采标号：IEC 60749-4:2002

采标名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：