标准编号：GB/T 34002-2017

中文名称：微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法

英文名称：Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures

发布日期：2017-07-12

实施日期：2018-06-01

代替标准：

标准类别：

采标号：ISO 29301:2010

采标名称：微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：