标准编号：GB/T 33922-2017

中文名称：MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法

英文名称：Wafer level test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive die performances

发布日期：2017-07-12

实施日期：2018-02-01

代替标准：

标准类别：

采标号：None

采标名称：None

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：