标准编号：GB/T 11685-2003

中文名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

英文名称：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers

发布日期：2003-07-07

实施日期：2004-01-01

代替标准：GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988

标准类别：

采标号：IEC 60759:1983

采标名称：None

采标程度：

采标类型：

ICS：

CCS：